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Interferometria della luce bianca di alta precisione/interferometria esame verticale

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di buona qualità Video sistema di misurazione per le vendite
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Interferometria della luce bianca di alta precisione/interferometria esame verticale

High Precision White Light Interferometry / Vertical Scanning Interferometry
High Precision White Light Interferometry / Vertical Scanning Interferometry

Grande immagine :  Interferometria della luce bianca di alta precisione/interferometria esame verticale

Dettagli:

Luogo di origine: Guangdong Cina
Marca: Rational
Certificazione: CE SGS ISO
Numero di modello: Interferometro della luce bianca

Termini di pagamento e spedizione:

Quantità di ordine minimo: 1 set
Prezzo: Negotiable
Imballaggi particolari: Imballaggio di vuoto & caso di legno di fumigazione libera
Tempi di consegna: Dopo l'acconto ricevuto 5-15workdays
Termini di pagamento: L/C, D/A, D/P, T/T
Capacità di alimentazione: insieme 10000 al mese
Descrizione di prodotto dettagliata
Campo di misura: 100um (fino a 400um) Tempo di impiego medio: 1000hours (100W) 500hours (150W)
Risoluzione: 0.1Nm energia: CA 100-240V 50/60Hz
Velocità di scansione: Il 12um/s più veloce Marca: Rational
Evidenziare:

optical interferometry

,

vertical scanning interferometry

Interferometria della luce bianca di alta precisione/interferometria esame verticale


Riassunto di prodotto:


Combinato con il microscopio e l'interferometro, l'interferometro della luce bianca, con la misura 3D di altezza di esame verticale di 400um, è adatto a misura di profilo e del profilo di vari materiali e di micro componenti. Questo strumento non ha bisogno del programma emendato da luce complessa. È ampiamente usato in lente di vetro, nella superficie del film del rivestimento, in wafer, in disco, in MEMS (micro elettro sistema meccanico), in LCD piano, nel PWB ad alta densità, in IC che imballano, nell'analisi materiale, nella ricerca di superficie del micro, ecc.
 

Caratteristiche:


1. misura 3D per l'oggetto del nanoscale.
2. ad alta velocità e senza contatto.
3. analisi di superficie, del profilo e della rugosità.
4. materiali trasparenti o non trasparenti disponibili.
5. fascio dell'Non elettrone e misura di sicurezza non laser.
6. manutenzione a basso costo.

Grafico professionale 3D che elabora e che analizza software (posta Topo):
1. interfaccia facile da usare dell'uomo-macchina.
2. Auto-calibratura per il film standard avanzato.
3. l'analisi lineare o l'analisi regionale è disponibile quando analizza la profondità e l'altezza.
4. l'analisi lineare è disponibile nella rugosità o nell'ondosità definita dall'iso.
5. 17 specifiche di misurazione e 4 dati di misurazione supplementari disponibili.
6. l'analisi regionale è disponibile nell'analisi grafica o nell'analisi di statistica.
7. la 2D trasformata di fourier veloce (FFT) che elabora la caratteristica gradisce il lisciamento, l'affilatura e l'onda digitale di filtrazione.
8. il risultato dell'analisi ha prodotto nei fili di grafica multipli come il BMP, o nel formato di Excel dall'interferometro che analizza il software, ImgScan.

 

Software di analisi di interferenza di alta precisione e di alta velocità (ImgScan):


1. L'hardware del sistema è configurato con il software di lavorazione di ImgScan analizzare automaticamente la frangia della luce bianca.
2. l'altezza di verticale spetta a 0.1nm.
3. software di calcolo ed analizzante ad alta velocità.
4. La messa a punto della gamma di esame verticale è facile e semplice.
5. la lente è disponibile in 10X, in 20X o in 50X.
6. esposizione numerica dell'asse di X, di Y e di Z, che rende l'oggetto misurato più veloce e più conveniente individuare.
7. la luminosità automatica manuale è a disposizione per acquistare il migliore confronto della frangia della luce bianca.
8. disponibile nel modo di misura di esame di alta precisione PVSI o nel modo ad alta velocità di misura di esame di VSI.
9. Patented che analizza il software è adatto a misurare il profilo 3D di oggetto semi-trasparente.
10. punto di riparazione automatica.
11. la direzione di esame può essere fissata dall'utente.

Specifiche:

 

Modello AE-100M
Piano mobile (millimetro) Dimensione: 100*100, viaggio: 13*13
Ingrandimento della lente 10X 20X 50X
Osservando la gamma di /Measuring (millimetro) 0.43*0.32 0.21*0.16 0.088*0.066
Risoluzione (μm) 0,92 0,69 0,5
Gradi 17 23 33
Distanza di funzionamento 7,4 4,7 3,4
La risoluzione del sensore pixel: 640*480
Carico del peso (chilogrammo) 20kg/di meno che 1kg
viaggio di Z-asse 45mm (manualmente regolarsi)
visualizzatore digitale di Z-asse Risoluzione: 1μm
Piattaforma di regolazione propensa Adeguamento del manuale di Biax/
Misura di altezza
Campo di misura 100 (μm) (400μm. Configurazione facoltativa)
Risoluzione 0.1nm
Accuratezza ripetuta ≤ 0,1% (height>10μm di misurazione)
≤10nm (height1μm di misurazione 10μm)
≤ 5nm (altezza di misurazione <1>
Sistema di controllo di misurazione Automatico
Velocità di scansione (μm/s) 12 (il più veloce)
Illuminazione
Tipo Lampada dell'alogeno
Durata della vita media 1000h 100W 500h (150W)
Luminosità Automaticamente/regola manualmente
Elaborazione dei dati e computer
Esposizione d'elaborazione e di calcolo della centrale TAZZA doppia di core+
Video ed esposizione dell'elaborazione dei dati 17" schermo LCD
OS Windows XP (2)
Alimentazione elettrica e requisiti ambientali AC100 --240 V 50-60Hz
Vibrazione ambientale VVC-C più il livello
Misurando ed analizzando i software
Software di misurazione ImgScan Software di misurazione ImgScan: disponibile nel modo di misurazione di VSI/PVSI/PSI (il modo di misurazione di PSI deve essere configurato con il modulo di PSI)
Analizzare software PosTopo La rugosità di iso/analisi di altezza, il multiplo 2D e 3D Fourier veloce trasforma.
Osservi il grafico di osservazione come il profilo; profilo, area ed analisi del volume; zumata del grafico; conversione di formato di file video.
Rapporto; misura di corso di programma.

 

 

 

 

 

Dettagli di contatto
Rational Precision Instrument Co.,Ltd.

Persona di contatto: Sunny

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